Focused Ion Beam
Mit dem Ionenstrahl in Keramik eingeschriebenes Logo der TH

Focused Ion Beam

FIB Micrion 9100

  • Spannung 30 kV
  • Ga-Ionen
  • Wolframabscheidung mit Wolframhexacarbonyl W(CO)6
  • Ätzen mit Xenondifluorid XeF2
  • Strukturbreiten bis 50 nm
  • Bildgebung durch Mikrokanalplatte, keine Röntgendiagnostik
  • Probengröße bis 20 cm
  • Vakuumdruck bis etwa 10-7 mbar

Kontakt Torsten Döhler Torsten Döhler

Tel.: +49 3375 508 476
Mail: torsten.doehler@th-wildau.de
Web: tdoehler@th-wildau.de
Haus 14, Raum A217

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